Los rayos X pueden reflejarse en determinadas condiciones al incidir sobre la materia. Se distinguen principalmente tres tipos de reflexión:

 Reflexión total externa    Reflexión Bragg   Reflexión multicapa

 

Reflexión total externa

Cuando los rayos X penetran en la materia bajo incidencia rasante, se reflejarán por Reflexión Total Externa (TER) cuando el ángulo de incidencia sea inferior al ángulo crítico αcritical.

angles in X-ray reflection

Fig. 1: Esquema de los ángulos e índices de refracción utilizados para calcular el ángulo crítico de reflexión total externa

El ángulo crítico puede calcularse del siguiente modo (véase la fig. 1). A partir de la refracción de los rayos X sabemos que la ley de Snell es

con el ángulo α1 del rayo entrante y α2 del rayo saliente y los índices de refracción n2 en la materia y n1 en el medio del que procede el rayo. La reflexión externa total se produce para ángulos α1, cuando el ángulo α2 alcanza 90°. Suponiendo que el rayo procede del vacío, n1=1. Por tanto, el ángulo crítico αcritical es

Como n2 es sólo ligeramente inferior a uno (por ejemplo, para el oro para energías de fotones de 12.4 keV, n2 = 1-1.88·10-5), el ángulo máximo para que se produzca TER es cercano 90° (para el oro a 12.4 keV αcritical = 89.65° = 90°-0.351°). En el caso de los rayos X, la reflexión externa total sólo se produce bajo incidencia rasante. Por tanto, los ángulos de reflexión α son siempre próximos a 90°. En consecuencia, normalmente los ángulos de reflexión se miden como ángulos θ entre el rayo entrante y la superficie de los espejos. El ángulo crítico θcritical es entonces

con n2 = 1-δ y con la expansión de Taylor del coseno

el ángulo crítico θcritical es

o

o al multiplicar por 180/π

Esta aproximación da como resultado un error inferior al 0,021% para θcritical<1°. En el ejemplo del oro y una energía fotónica de 12.4 keV, θcritical =0.351°. La reflexión externa total es casi, pero no completamente sin pérdidas, porque el coeficiente de absorción β no es cero.

 

Reflexión Bragg

Las superficies de cristal muestran una alta reflectividad bajo ángulos especiales dependiendo de la longitud de onda de los rayos X debido a la Bragg-reflexión. Los espejos que utilizan la reflexión de Bragg para redirigir los rayos X se denominan espejos de cristal. Estos espejos proporcionan grandes ángulos de reflexión cuando se cumple la condición de reflexión para una longitud de onda dada. Para comprender el principio físico, se considera la diferencia de camino de un rayo entrante reflejado en la superficie de un cristal y un rayo vecino que se refleja en la siguiente capa atómica interior (véase la fig. 2). Cuando la diferencia de camino óptico

Δ=2d sinθ

con la distancia d entre dos capas atómicas adyacentes y el ángulo θ de la onda entrante medida a la superficie es un múltiplo entero m de la longitud de onda λ, se produce una interferencia constructiva y en consecuencia la onda se refleja. Esto se conoce como ecuación de Bragg:

=2d sinθ

La reflexión de Bragg se utiliza, por ejemplo, para enfocar la radiación monocromática con espejos de cristal curvados elípticamente y en monocromadores para filtrar longitudes de onda, así como en la ciencia de materiales cuando se calculan las constantes de red atómica d a partir de los ángulos de reflexión en muestras cristalinas.

X-ray Bragg reflection sketch

Fig. 2: Reflexión de Bragg; cuando la diferencia de camino óptico Δ=2d sinθ para una determinada longitud de onda λ es múltiplo de λ, los haces interferirán constructivamente.

 

Reflexión multicapa

Un espejo de rayos X puede formarse fabricando un sistema multicapa compuesto por capas de diferente índice de refracción (véase la fig. 3).

Fig. 3: Reflexión de rayos X en un espejo multicapa

 

La ecuación de Bragg cambia entonces para compensar la refracción en las capas [Tho 2009]:

con el orden m, la longitud de onda λ, el periodo dM del sistema multicapa, el ángulo de incidencia θ y la parte real delta quer del índice de refracción promediado por periodo del sistema multicapa.

 

[Tho 2009]

A. C. Thompson, J. Kirz, D. T. Attwood, E. M. Gullikson, M. R. Howells, J. B. Kortright, Y. Liu and A. L. Robinson; X-ray data booklet, third edition, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, California, 2009

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